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標題: 32單片機軟件ROM自檢程序怎么寫? [打印本頁]

作者: zouzhuangzhi 時間: 2023-2-13 15:42
標題: 32單片機軟件ROM自檢程序怎么寫?
現在在做一款32位單片機軟件自檢程序，在做ROM的CRC校驗自檢時遇到問題，認證公司要求先把程序的CRC校驗值寫到FLASH固定地址里面（該地址不做CRC校驗），進入自檢的時候程序進行CRC計算，然后與放在FLASH固定地址的CRC比較來檢驗ROM區域的程序是否有異常變化，自己寫了程序應該是有BUG，有大佬提供一下例程不？

// 引用外部函數extern uint32_t iec60730_ram_march_bist_test(uint32_t addr);extern void iec60730_reg_r1_r4_bist_test(void);extern void iec60730_reg_r0_bist_test(void);extern void iec60730_reg_r8_r12_bist_test(void);extern void iec60730_reg_sp_bist_test(void);extern void iec60730_reg_spec_bist_test(void);extern void iec60730_reg_lr_bist_test(void);extern void iec60730_pc_test(void);extern CPUStatus STL_RunTimeCPUTest(void);void PC_Test_Func1(void)__attribute__((section(".ARM.__at_0x00003ff0"))); //地址以4為單位遞增，不然編譯不通過，函數聲明需要放在文件最上面聲明void PC_Test_Func2(void)__attribute__((section(".ARM.__at_0x0000400c"))); const uint32_t CRC_Result __attribute__((at(0x00007F8C))) = 0x00006EFF;uint32_t RamTestResult = 0;uint32_t CpuTestResult = 0;uint32_t crcResult = 0;/*flash self test*/static uint32_t _FLASH_CRC;// 棧底數據__IO uint32_t StackOverFlowPtrn[4] __attribute__((section("STACK_BOTTOM"), zero_init));// 每次校驗的數據量#define ROM_BIST_SIZE 8 /* 8 bytes every time */#define ROM_START (0x0)#define FLASH_ROM_START_ADDR (0x0)#define FLASH_ROM_SIZE (20480)//(32*1024)//#define FLASH_ROM_SIZE (32*1024)#define ROM_END ((uint32_t)(FLASH_ROM_SIZE - 1))#define ROM_SIZE ((uint32_t)ROM_END - (uint32_t)ROM_START + 1)static volatile uint32_t hw_crc,sw_crc;// bref: 測試flash// para:// note:static void ROM_Test(void){ stl_uint8_t* p_flash_start_addr = (stl_uint8_t*)FLASH_ROM_START_ADDR; iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_SUCCESS; CRC_Init(); /*open crc apb clock*/ SYS_EnablePeripheralClk(SYS_CLK_CRC_MSK); /* use hardware CRC16 to calculate expected crc first, then verify if the CRC code calculated by software is same with expected crc */ hw_crc = IEC60730_HardwareCRC16Gen(p_flash_start_addr, ROM_SIZE); if(IEC60730_TEST_NORMAL != IEC60730_SoftwareCRC16Test(p_flash_start_addr, ROM_SIZE, hw_crc)){ iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL; } // 使用過硬件CRC 完成一個完整的校驗選喲重新初始化 CRC_Init(); /* use software CRC16 to calculate expected crc first, then verify if the CRC code calculated by hardware is same with expected crc */ sw_crc = IEC60730_SoftwareCRC16Gen(p_flash_start_addr, ROM_SIZE); if(IEC60730_TEST_NORMAL != IEC60730_HardwareCRC16Test(p_flash_start_addr,ROM_SIZE, sw_crc)){ iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL; } // 記錄整個flash 區域的校驗值 _FLASH_CRC = hw_crc; crcResult = CRC_Result; if(crcResult == sw_crc)//_FLASH_CRC CRC_Result { iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_SUCCESS; } else { iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL; } }

作者: hi等你 時間: 2023-2-15 16:14
程序rom還能自檢？本人才疏學淺，一般單片機程序稍大一些1k起步，再大幾十k夠大了，如何自檢每個字節

甚至每個位能無差錯？用什么原理，拭目以待等候高手出現

作者: ningsy 時間: 2023-2-15 16:53
STP ISP 在讀入hex文件那一刻，已經對整個hex進行校驗計算了。

作者: 羅程峰8200 時間: 2023-2-15 22:19
理論上只要程序正常運行，程序就是對的，如果還要較驗的話有什么意義？會不會被人故意刁難？

作者: ningsy 時間: 2023-2-15 23:15
我自己寫的eeprom連續讀寫代碼，每次存入12個字節。第一位是序號，第2~11位是數據，第12位是校驗位。讀的時候校驗一次，有問題就讀默認數據。目的是為了防止eeprom寫入錯誤，比如存儲單元損壞，或寫入時意外斷電等。雖然幾率很小，但有預案總比沒有強。

作者: ningsy 時間: 2023-2-16 19:27
按照我的理解，所謂校驗就是按地址順序讀出這段數據，然后計算（比如累加求和），再與已存在的校驗位比較，一致就是哪都沒錯往下走；不一致就報錯或者B計劃。應該幾句代碼就搞定了，為何被你寫的如此復雜？

作者: 新昌小徐 時間: 2023-2-19 00:11
CRC較驗啊，浙大中控，在工程師站編好程序后，編譯下載到控制站，下載好后，再回讀，進行CRC較驗，得到CRC較驗值與編譯好后下載前計算出來的CRC較驗值進行比較，如果相等，下載到控制站的程序無誤。
同時，這次回讀生成的CRC較驗值將保存起來，下次編譯后要下載的時候，將當前的程序的CRC較驗值與上次保存的CRC值比較，如果相等，提示程序沒有變化，無須下載，如果不相等，提示下載后會改變原來的程序，是否繼續。
CRC較驗就是用商定好的一個數據作為除數，待較驗的數據作為被除數，進行除法運算，除法運算的時候沒有進位和借位

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