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在深入了解scan技術之前,我們先來比較下分別針對組合電路和時序電路的測試過程。很顯然,在芯片制造出來后,我們只能通過其輸入輸出端口來對芯片進行各項檢測。在如圖A所示的組合電路中,假設F處有一短接電源地的固 ...
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