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發(fā)布時(shí)間: 2021-7-11 17:59
正文摘要:本帖最后由 OHHO 于 2021-7-11 18:04 編輯 最近在做一個(gè)電容檢測的項(xiàng)目,想法是用運(yùn)放的輸入輸出關(guān)系來估計(jì)電容值,不同幅值的正弦波對應(yīng)不同的待測電容值,然后就用到了AD736這芯片。一開始我是按照手冊里說的低 ... |
本帖最后由 OHHO 于 2021-7-12 18:46 編輯 yzwzfyz 發(fā)表于 2021-7-12 09:31 考慮理想情況下分析時(shí),只接入電容C1與待測電容Cx,根據(jù)運(yùn)放的負(fù)反饋虛短得到輸出電壓Uo=-C1/Cx*Ui,相當(dāng)于把基本的反相比例放大電路里面的電阻改成阻抗來看,但是純這樣有個(gè)問題電容沒有放電回路,因此Cx不斷充電輸出很快達(dá)到飽和,運(yùn)放進(jìn)入非線性區(qū),實(shí)際起不到效果,所以就在反饋電容上并聯(lián)一個(gè)大阻抗電阻來提供回路。由于并聯(lián),Cx的阻抗遠(yuǎn)小于1MΩ,反饋回路仍由Cx主導(dǎo)。同時(shí)同相端匹配電阻來控制失調(diào)電壓輸出的直流偏置,您看看這樣是否有道理? 這部分我仿真的結(jié)果倒是和預(yù)計(jì)相差不多。 |
不急! 首先測量方案在理論上要說得通。 例如:【用運(yùn)放的輸入輸出關(guān)系來估計(jì)電容值,不同幅值的正弦波對應(yīng)不同的待測電容值】 它的理論依據(jù)是什么?能給出一個(gè)公式嗎? |
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