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先聲明一下：本檢測方法精度很低，只能用于要求不高的場合。
電路只要一個電阻和一個電容，和占用一個IO口，電路如下：
方法：
1、先將IO口設(shè)為輸出并置成低電平，對電容C放電；
2、再將IO口設(shè)為輸入，同時啟動MCU內(nèi)部的計數(shù)器；
3、電池電壓Vbat將通過電阻R對C充電，同時MCU檢測IO口的狀態(tài)；
4、當(dāng)檢測到IO口為高時，停止計數(shù)；
5、將IO口重新設(shè)為輸出0；
6、此時計數(shù)值與Vbat的值相對應(yīng)。
Vbat的計算方法：可以通過查表加插值方法計算出電壓值，表的制作方法是：用一組已知的電壓測出對應(yīng)的計數(shù)值，寫入到程序里。
如果要提高檢測的精度，可以單獨對每個產(chǎn)品獨立調(diào)校，將得到的表格數(shù)據(jù)寫入到EEPROM內(nèi)。
本方案可以用于無AD的MCU，又需要電池電壓檢測的低成本的應(yīng)用中。
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