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摘要與關鍵詞... - 2 - 1 設計任務與要求... - 3 - 1.1 設計任務... - 3 - 1.2 技術指標... - 3 - 2 方案論證與比較... - 3 - 3 掃頻信號源及外圍硬件電路... - 5 - 3.1 DDS信號源設計... - 5 - 3.2 阻容雙T網絡相關參數的計算... - 8 - 3.3 峰值檢波電路... - 9 - 3.4 相位差測量... - 10 - 4 MCU、按鍵顯示、通信模塊... - 11 - 4.1 LPC2132簡介... - 11 - 4.2 按鍵顯示電路... - 12 - 4.3 SPI通信模塊... - 12 - 5 軟件流程... - 13 - 6 系統調試與測量結果... - 14 - 6.1 測試儀器... - 14 - 6.2 DDS掃頻信號源... - 15 - 6.3 幅頻特性測量... - 15 - 6.4 相頻特性測量... - 17 - 6.5 總結... - 19 - 7 參考資料... - 19 - 摘要： 頻率特性測試儀也稱掃頻儀，用于測量被測網絡的幅頻特性和相頻特性，是電子領域中常用的設備之一。本文詳細敘述了由ARM、FPGA以及外圍電路制作頻率特性儀的所需的軟件和硬件。幅值的測量由ARM控制FPGA產生DDS信號掃頻信號經過測試網絡（阻容雙T網絡）、峰值檢波、ADC將幅值存入Flash；相位差的測量是將測試網絡輸入和輸出兩路信號分別送比較器整形為方波，測量兩路方波異或后的脈沖寬度來實現。通過把Flash中存儲的相應頻率的幅值和相位讀出可在數碼管上顯示，或經過DAC可在示波器上顯示幅頻特性和相頻特性。經過實際制作和調試，由LPC2132控制Cyclone II產生的掃頻信號實際范圍為5～2M Hz、最小步進值5Hz；在100～100k Hz范圍內幅值和相位精度基本滿足題目要求。
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